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日本SSD進(jìn)口H0110-S4B測量?jì)x器MEASURES

日本SSD進(jìn)口H0110-S4B測量?jì)x器MEASURES

靜電衰減測量?jì)x適用于檢查材料的靜電擴散率，通過(guò)用電暈放電產(chǎn)生的空氣離子照射樣品使樣品帶電，然后在停止照射空氣離子后檢查電荷的衰減曲線(xiàn)。 。全新升級為H0110-S4B。

該設備符合JIS L1094-1980半衰期測量?jì)x的要求，即測試紡織品和針織物靜電性能的方法。（如果需要用20mm的探頭高度進(jìn)行校準，請在購買(mǎi)時(shí)注明。）

作為使樣品帶電的方法，使用通過(guò)電暈放電產(chǎn)生的空氣離子的照射，通過(guò)選擇電暈放電的極性和施加電壓，可以使樣品帶正電或負電。

可以測量所有片狀樣品，例如薄膜、板材、線(xiàn)、布料、地毯和玻璃。但重量、厚度、尺寸有限制，請聯(lián)系我們。

Honest 可以進(jìn)行演示測量。請與我們聯(lián)系以獲取更多信息。

誠實(shí)數據分析系統已升級至V3。H0110-S4B 還支持 Honest。

為了將V3連接到H0110-S4A，需要對主機進(jìn)行修改。對于其他舊型號，可能無(wú)法修改連接，請聯(lián)系我們。

從H0110-S4開(kāi)始，校準時(shí)的標準探頭高度為15毫米，符合JIS。如需20mm校準，請在訂購時(shí)注明。

購買(mǎi)時(shí)注明AC100V 50Hz/60Hz。