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日本sanko三高進(jìn)口SL-200E電磁模擬膜厚儀
產(chǎn)品型號：SL-200E
產(chǎn)品品牌：日本三高SANKO
產(chǎn)品簡(jiǎn)介：
探頭尺寸小，適合測量平面、曲面、圓棒、零件、復雜形狀、內表面等局部涂層厚度。探頭尺寸小，適合測量平面、曲面、圓棒、零件、復雜形狀、內表面等局部涂層厚度。
日本sanko三高進(jìn)口SL-200E電磁模擬膜厚儀
日本sanko三高進(jìn)口SL-200E電磁模擬膜厚儀
探頭尺寸小，適合測量平面、曲面、圓棒、零件、復雜形狀、內表面等局部涂層厚度。探頭尺寸小，適合測量平面、曲面、圓棒、零件、復雜形狀、內表面等局部涂層厚度。探頭尺寸小，適合測量平面、曲面、圓棒、零件、復雜形狀、內表面等局部涂層厚度
規格
測量范圍
I：0～50μm II：0～500μm
測量精度
均勻表面上顯示值的 ±1 μm 或 ±2%
電源
DC：AA 電池 (1.5V) x 8
AC：100V，50/60Hz（使用交流適配器）
工作溫度
0 至 40°C（無(wú)冷凝）機身尺寸190(寬)×90(高)×120(深)毫米重量1.8公斤配件標準厚度板、AC適配器、肩包探測2極型，磁極直徑φ2.5，極距5mm尺寸：10(W)×17(H)×21(D)mm
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