用于研究開(kāi)發(fā)、質(zhì)量管理第一線(xiàn)，執行粉體之物性管理

與阻抗率計Loresta-GX(MCP-T700),Hiresta-UX(MCP-HT800)連接，以測定廣范圍之粉體之低阻抗、高阻抗

樣品的交換、清掃簡(jiǎn)單、可采一觸式著(zhù)離探頭

各種粉體的形狀，粒徑分布之不同依壓力依存性把握其阻抗率及壓縮容積

測定及數據、備有達執行圖形化之軟件以供選購

原理：

通過(guò)使用粉專(zhuān)用探針，可以在任意壓力下測量導~絕緣的電阻率。 不是模擬一個(gè)粒子，而是模擬加壓成形的粒子的集合狀態(tài)，起因于填充特性

可以求出乘積電阻率。

測定對象：

碳基粉末…二次電池電極材料/活性炭/焦炭/石墨/炭黑/碳纖維/納米碳等

金屬粉…電池電極材料/銅粉等薄膜材料/導電性漿料等電路基板材料/導電性涂料/壓粉原料等

調色劑/樹(shù)脂/食品用粉類(lèi)/陶瓷/粉涂料等絕緣性粉粉末粉體

電阻值：

低電阻10-3Ω~107Ω高電阻103Ω~1013Ω

測量方法：

低電阻四探針?lè )绞?/span>(電極間隔3mm )高電阻雙環(huán)法